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南臺科技大學 光電工程系 許進明所指導 林鴻閔的 利用應力調變提升多層式ITO鍍膜彎曲機械強度之研究 （2021），提出三星fold關鍵因素是什麼，來自於氧化銦錫、彎曲機械強度、膜應力。

而第二篇論文南臺科技大學 光電工程系 許進明所指導 莊雅雯的 改善電性鈣測試法感測機構以降低水氧穿透率量測極限值之研究 （2021），提出因為有 電性鈣測試、水氧穿透率的重點而找出了 三星fold的解答。

最後網站三星Galaxy Z Fold5：2023最受期待的摺疊旗艦手機- OP響樂生活則補充：Galaxy Z Fold 5 預計將配備基於Android 13 的One UI 5.1.1，同時通過IPX8 防水和Gorilla Glass Victus 2 保護。 三星粉絲和技術愛好者有望在近期收到有關 ...

接下來讓我們看這些論文和書籍都說些什麼吧：

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三星fold進入發燒排行的影片

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利用應力調變提升多層式ITO鍍膜彎曲機械強度之研究

為了解決三星fold的問題，作者林鴻閔 這樣論述：

軟性有機發光二極體(OLED) 具有輕、薄、可捲曲、不易脆裂等等的優勢，能融入如汽機車、智慧型手機周邊、裝置藝術、區域自主照明等等的應用，但仍廣泛使用的ITO透明導電膜，在過度彎曲時容易因為應力與應變產生龜裂，造成OLED的電性劣化與不穩定，因此開發具優良彎曲機強度的透明導電膜是必要的。 本研究欲藉由改變多層ITO薄膜的預裂/鍍膜曲率半徑，降低ITO薄膜的內應力，探討應力調變對於ITO彎曲機械強度之影響。研究方法是製作5層的預裂式ITO薄膜，總厚度為200nm，在鍍膜過程中使用彎曲鍍膜，並進行每一鍍層的預裂，彎曲鍍膜半徑設計為6~12mm，而預裂半徑也設定為6~12mm，完成後

的5層ITO膜進行150 oC 1hr的熱退火，觀察膜應力的變化，然後量測動態彎曲測試後ITO膜的阻抗，分析膜應力與彎曲機械特性和表面型態之相關性。 研究結果發現，當多層式ITO薄膜的預裂半徑(PC)與鍍膜彎曲半徑(SC)相同時，PC/SC=10mm/10mm的ITO薄膜可以得到最佳的彎曲機械強度，在1000次半徑13mm的彎曲測試後，其電阻值由單層ITO的1,100 Ω 下降至307 Ω，電阻變化率(ΔR/Ro)也由單層ITO的23.69下降至3.64。而PC相同/SC不同時，PC/SC=10mm/10mm的ITO薄膜可以得到最佳的彎曲機械強度，在1000次半徑13mm的彎曲測試後，P

C/SC=10mm/10mm R值為189 Ω，電阻變化率(ΔR/Ro)為1.00，與其他相同PC/不同SC的ΔR/Ro和R值相比，都較低且穩定。此結果顯示，預裂與鍍膜彎曲半徑越大，鍍膜沉積於裂縫的情形較低，而產生較低的薄膜內應力，而當彎曲鍍膜半徑和預裂半徑相同時，應力由彎曲鍍膜決定，預裂的程度不會產生影響太大的內應力。 由本研究顯示，藉由改變預裂半徑與彎曲鍍膜半徑確實可以調製ITO薄膜的膜應力，進而改善ITO薄膜彎曲機械強度，這也可以由ITO薄膜表面裂痕的減少得到驗證。

改善電性鈣測試法感測機構以降低水氧穿透率量測極限值之研究

為了解決三星fold的問題，作者莊雅雯 這樣論述：

軟性有機發光二極體 ( OLED ) 已逐漸應用如裝置藝術、手機與電器螢幕、區域照明等產品，軟性OLED一般以阻水氣值大於0.1 g/m2/day的塑膠為基材，容易造成OLED的特性劣化，因此通常必須在塑膠基材上沉積極低水氣滲透性( water vapor transmission rate, WVTR ) 的阻氣層，而開發能準確評估水氧穿透率量測系統具必要的。 本研究欲透過改變鈣感測機構中所使用之零組件材料和除氣條件，優化電性鈣測試法的感測極限。研究方法是利用熱蒸鍍製作一層300 nm鈣薄膜於玻璃基材，並封裝於一封裝機構中，進行包括封裝機構零組件材料與除氣條件優化的實驗。除氣

條件包括除氣溫度 ( 100 oC ~150 oC ) 與除氣時間 ( 1~4小時 ) 參數的調整，完成封裝後的鈣感測膜在進行7天的電性量測，觀察鈣感測膜電導隨時間變化的趨勢，分析零組件、除氣溫度與除氣時間對鈣感測膜WVTR ( water vapor transmission rate ) 量測極限值之影響。 研究結果發現，當鈣感測機構使用Teflon材料、JPE閥門和銅雙面膠帶電極等零組件時，鈣感測元件於手套箱中可以得到相對較佳的WVTR值。將除氣時間設定為1小時，除氣溫度增加至150 oC時，鈣感測機構可以達到4.16 × 10-4 g/m2/day的WVTR值，持續增加除氣時間至

4小時，則WVTR值可以達到預期的 < 10-6 g/m2/day，顯示增加除氣時間能有效改善鈣測試的感測極限值。但在大氣環境下，因為如閥門的外部組件仍有微漏氣的情形， WVTR值只能達到3.28 × 10-4 g/m2/day。 我們團隊在建立商用鈣測試法中，已開發一台鈣測試系統能結合鈣測試感測機構來進行電性測試。目前鈣測試感測機構內部可以達到WVTR < 10-6 g/m2/day，但在大氣環境下最低的WVTR值為3.28 × 10-4 g/m2/day，未來需改善鈣感測機構外部微漏氣的問題，使可以達到商用化WVTR < 10-6 g/m2/day的目標。

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