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國立臺灣科技大學 電機工程系 郭政謙所指導 吳書齊的 應用嵌入式系統於部分放電量測設備之研發 （2018），提出texa診斷電腦關鍵因素是什麼，來自於部分放電、現場可程式化閘陣列、高頻比流器。
應用嵌入式系統於部分放電量測設備之研發
為了解決texa診斷電腦 的問題，作者吳書齊 這樣論述：
電力設備絕緣劣化時，常會伴隨部分放電現象之產生。部分放電會以光能、熱能、聲響及化學變化等形式釋放能量，進而產生臭氧、氧化物等化學物質，逐漸侵蝕絕緣材料，而形成導電通道，沿電場方向形成樹狀結構，降低絕緣能力。如若電力設備因絕緣不良而損毀，將造成電力系統不穩定，影響供電品質。本研究擬研製一低成本、高識別度之部分放電量測設備，以提升應用於電力設備上之部分放電量測能力。透過高頻比流器(HFCT)、類比-數位轉換器(ADC)、現場可程式化閘陣列(FPGA)、ARM Cortex-A8微處理器，結合應用於自製之量測設備，並能透過網路介面傳輸至電腦。經比對自製裝置與商用型部分放電量測設備之測試結果，驗證了
自製裝置的正確性。藉由此自製裝置之實現，大幅提升具有低成本及高識別度之部分放電量測設備的發展空間。