液態金屬散熱片的問題,透過圖書和論文來找解法和答案更準確安心。 我們找到下列問答集和資訊懶人包

液態金屬散熱片的問題,我們搜遍了碩博士論文和台灣出版的書籍,推薦(美)喬恩L.多塞特寫的 美國金屬學會熱處理手冊 A卷:鋼的熱處理基礎和工藝流程 和賈忠中的 SMT工藝不良與組裝可靠性都 可以從中找到所需的評價。

另外網站液態憑什麼硬如鋼?告訴你一種神奇的新材料-瞭望周刊社 - 新華網也說明:“外骨骼”只是液態金屬應用的一個代表。3D電子手寫筆、電子油墨、導熱片、晶片散熱器、液態金屬光伏疊瓦組件、液態金屬LED智能玻璃屏……在中宣公司液態 ...

這兩本書分別來自機械工業出版社 和電子工業所出版 。

國立高雄科技大學 機電工程系 曾奕丰所指導 楊人澍的 發泡鋁合金注氣製程技術研究 (2020),提出液態金屬散熱片關鍵因素是什麼,來自於發泡鋁、注氣發泡法、碳化矽。

而第二篇論文明志科技大學 機械工程系機械與機電工程碩士班 鍾永強所指導 鍾翰亘的 液態金屬與石墨烯溶液於LED的導電與散熱之應用 (2020),提出因為有 液態金屬、石墨烯溶液、光功率、熱傳、ANSYS的重點而找出了 液態金屬散熱片的解答。

最後網站散熱膏也用Liquidmetal》史上最強液態金屬散熱膏 - PCDIY!則補充:常溫下,最常見的液態金屬,就是水銀,屬於劇毒的一種。常溫下,還有一種常見液態金屬,那就是鎵。鎵和鎵的化合物,可以在常溫下,保持液態或固態。

接下來讓我們看這些論文和書籍都說些什麼吧:

除了液態金屬散熱片,大家也想知道這些:

美國金屬學會熱處理手冊 A卷:鋼的熱處理基礎和工藝流程

為了解決液態金屬散熱片的問題,作者(美)喬恩L.多塞特 這樣論述:

本書主要介紹了鋼的熱處理基礎知識和工藝流程,詳細講解了鋼的熱處理原理和淬火、滲碳、滲氮等熱處理工藝。   本書將熱處理工藝作為整個產品生產過程中的一個環節加以綜合考慮,為產品設計者和熱處理工程師進行產品設計和工藝制訂,提供了大量實用翔實的參考資料。   本書由世界上鋼鐵材料熱處理各研究領域的專家撰寫而成,反映了當代熱處理工藝的技術水準,具有先進性、全面性和實用性。

液態金屬散熱片進入發燒排行的影片

規格更正:
*ROG Mothership的USB Type-C不支援VirtualLink

今天要為各位帶來的開箱是之前ROG發表的電競航母Mothership!官方定價台幣199000元!這個霸氣的名字跟外觀十分吻合,搭配了可分離的無線鍵盤,兼具了筆電與All in one電腦的特性。其硬體規格非常頂級,intel core i9-9980HK與Nvidia GeForce RTX 2080都是一時之選,但我最喜歡的是它的散熱表現,大量的散熱模組跟液態金屬散熱膏可以長時間高壓工作,外觀也不愧是ROG團隊操刀,充滿各種電競特色與線條,一起來看看吧~

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發泡鋁合金注氣製程技術研究

為了解決液態金屬散熱片的問題,作者楊人澍 這樣論述:

輕型材料一直是世界各國研發的重點,多孔材料中如高分子材料、玻璃材料、陶瓷材料與金屬材料等,因其具有降低密度並保留部分原材料之特性受到廣泛的研究與討論。其中多孔金屬材更是近年深受矚目的輕量化材料。在多孔金屬材中,發泡鋁合金材料因其具有成本低、與優良吸音、散熱、耐衝擊、電磁屏蔽等特性,在航太、汽車與建築等行業,市場需求相當高,是可廣泛應用之多孔金屬材料。以閉孔式發泡鋁合金材來說,注氣發泡法是將氣體注入熔融金屬中,使其形成多孔洞結構,是目前生產多孔金屬材料,生產成本最具競爭力的方法。但在製程方面,因高溫熔融鋁合金之鋁液黏稠度、流動性、孔洞發泡速率與凝固特性較難控制,而導致鋁合金孔洞之直徑大小與分佈

均質性不佳,也就是發泡鋁合金之內部品質會不穩定,因此攪拌設備的葉輪及注氣管須經特殊設計才能產生足夠細小的氣泡,在鋁湯中需要添加適當比例黏稠劑使氣體能停留在液態金屬中,使孔洞結構相對穩定,再經由溫度控制、攪拌轉速等多重因素交互影響下,得以製造出孔洞品質穩定的發泡鋁材。本研究利用前置實驗得出使用碳化矽(SiC)作為黏稠劑能獲得較佳的發泡效果,在正式實驗中利用注氣方式(A)、碳化矽(SiC)添加比例(B)、粉末細度(C)、矽(Si)添加比例(D)、攪拌時間(E)、持溫溫度(F)、注氣流量(G)、注氣轉速(H)等八組控制因子作為實驗參數。透過田口設計探討控制參數對發泡鋁合金注氣製程之影響,最後將主成分

分析與田口方法進行結合,進行多目標最佳化,獲得發泡品質穩定的注氣發泡製程參數。

SMT工藝不良與組裝可靠性

為了解決液態金屬散熱片的問題,作者賈忠中 這樣論述:

本書是寫給那些在生產一線忙碌的工程師的。全書以工程應用為目標,聚焦基本概念與原理、表面組裝核心工藝、主要組裝工藝問題及應用問題,以圖文並茂的形式,介紹了焊接的基礎原理與概念、表面組裝的核心工藝與常見不良現象,以及組裝工藝帶來的可靠性問題。 本書適合於從事電子產品製造的工藝與品質工程師學習與參考。 賈忠中,高級工程師,先後供職於中國電子集團工藝研究所、中興通訊股份有限公司,從事電子製造工藝研究與管理工作近30年。在中興通訊股份有限公司工作也超過20年,見證並參與了中興工藝的發展歷程,歷任工藝研究部部長、副總工藝師、總工藝師、首席工藝專家。擔任廣東電子學會SMT專委會副主任委員

、中國電子學會委員。對SMT、可製造性設計、失效分析、焊接可靠性有深入、系統的研究,擅長組裝不良分析、焊點失效分析。出版了《SMT工藝品質控制》《SMT核心工藝解析與案例分析》《SMT可製造性設計》等專著。 第一部分  工藝基礎 1 第1章  概述 3 1.1  電子組裝技術的發展 3 1.2  表面組裝技術 4 1.2.1  元器件封裝形式的發展 4 1.2.2  印製電路板技術的發展 5 1.2.3  表面組裝技術的發展 6 1.3  表面組裝基本工藝流程 7 1.3.1  再流焊接工藝流程 7 1.3.2  波峰焊接工藝流程 7 1.4  表面組裝方式與工藝路徑 8

1.5  表面組裝技術的核心與關鍵點 9 1.6  表面組裝元器件的焊接 10 案例1 QFN的橋連 11 案例2 BGA的球窩與開焊 11 1.7  表面組裝技術知識體系 12 第2章  焊接基礎 14 2.1  軟釺焊工藝 14 2.2  焊點與焊錫材料 14 2.3  焊點形成過程及影響因素 15 2.4  潤濕 16 2.4.1  焊料的表面張力 17 2.4.2  焊接溫度 18 2.4.3  焊料合金元素與添加量 18 2.4.4  金屬在熔融Sn合金中的溶解率 19 2.4.5  金屬間化合物 20 2.5  相點陣圖和焊接 23 2.6  表面張力 24 2.6.1  表面張力

概述 24 2.6.2  表面張力起因 26 2.6.3  表面張力對液態焊料表面外形的影響 26 2.6.4  表面張力對焊點形成過程的影響 26 案例3  片式元件再流焊接時焊點的形成過程 26 案例4  BGA再流焊接時焊點的形成過程 27 2.7  助焊劑在焊接過程中的作用行為 28 2.7.1  再流焊接工藝中助焊劑的作用行為 28 2.7.2  波峰焊接工藝中助焊劑的作用行為 29 案例5  OSP板採用水基助焊劑波峰焊時漏焊 29 2.8  可焊性 30 2.8.1  可焊性概述 30 2.8.2  影響可焊性的因素 30 2.8.3  可焊性測試方法 32 2.8.4  潤濕稱

量法 33 2.8.5  浸漬法 35 2.8.6  鋪展法 35 2.8.7  老化 36 第3章  焊料合金、微觀組織與性能 37 3.1  常用焊料合金 37 3.1.1  Sn-Ag合金 37 3.1.2  Sn-Cu合金 38 3.1.3  Sn-Bi合金 39 3.1.4  Sn-Sb合金 39 3.1.5  提高焊點可靠性的途徑 40 3.1.6  無鉛合金中常用添加合金元素的作用 40 3.2  焊點的微觀結構與影響因素 42 3.2.1  組成元素 42 3.2.2  工藝條件 44 3.3  焊點的微觀結構與機械性能 44 3.3.1  焊點(焊料合金)的金相組織 45 3

.3.2  焊接介面金屬間化合物 46 3.3.3  不良的微觀組織 50 3.4  無鉛焊料合金的表面形貌 61 第二部分  工藝原理與不良 63 第4章  助焊劑 65 4.1  助焊劑的發展歷程 65 4.2  液態助焊劑的分類標準與代碼 66 4.3  液態助焊劑的組成、功能與常用類別 68 4.3.1  組成 68 4.3.2  功能 69 4.3.3  常用類別 70 4.4  液態助焊劑的技術指標與檢測 71 4.5  助焊劑的選型評估 75 4.5.1  橋連缺陷率 75 4.5.2  通孔透錫率 76 4.5.3  焊盤上錫飽滿度 76 4.5.4  焊後PCB表面潔淨度 

77 4.5.5  ICT測試直通率 78 4.5.6  助焊劑的多元化 78 4.6  白色殘留物 79 4.6.1  焊劑中的松香 80 4.6.2  松香變形物 81 4.6.3  有機金屬鹽 81 4.6.4  無機金屬鹽 81 第5章  焊膏 83 5.1  焊膏及組成 83 5.2  助焊劑的組成與功能 84 5.2.1  樹脂 84 5.2.2  活化劑 85 5.2.3  溶劑 87 5.2.4  流變添加劑 88 5.2.5  焊膏配方設計的工藝性考慮 89 5.3  焊粉 89 5.4  助焊反應 90 5.4.1  酸基反應 90 5.4.2  氧化-還原反應 91 5.

5  焊膏流變性要求 91 5.5.1  黏度及測量 91 5.5.2  流體的流變特性 92 5.5.3  影響焊膏流變性的因素 94 5.6  焊膏的性能評估與選型 96 5.7  焊膏的儲存與應用 100 5.7.1  儲存、解凍與攪拌 100 5.7.2  使用時間與再使用注意事項 101 5.7.3  常見不良 101 第6章 PCB表面鍍層及工藝特性 106 6.1  ENIG鍍層 106 6.1.1 工藝特性 106 6.1.2 應用問題 107 6.2  Im-Sn鍍層 108 6.2.1 工藝特性 109 6.2.2 應用問題 109 案例6 鍍Sn層薄導致虛焊 109 6.

3  Im-Ag鍍層 112 6.3.1 工藝特性 112 6.3.2  應用問題 113 6.4 OSP膜 114 6.4.1 OSP膜及其發展歷程 114 6.4.2 OSP工藝 115 6.4.3 銅面氧化來源與影響 115 6.4.4 氧化層的形成程度與通孔爬錫能力 117 6.4.5 OSP膜的優勢與劣勢 119 6.4.6 應用問題 119 6.5 無鉛噴錫 119 6.5.1 工藝特性 120 6.5.2 應用問題 122 6.6 無鉛表面耐焊接性對比 122 第7章 元器件引腳/焊端鍍層及工藝性 124 7.1 表面組裝元器件封裝類別 124 7.2 電極鍍層結構 125 7.

3 Chip類封裝 126 7.4 SOP/QFP類封裝 127 7.5 BGA類封裝 127 7.6 QFN類封裝 127 7.7 外掛程式類封裝 128 第8章  焊膏印刷與常見不良 129 8.1  焊膏印刷 129 8.2  印刷原理 129 8.3  影響焊膏印刷的因素 130 8.3.1  焊膏性能 130 8.3.2  範本因素 133 8.3.3  印刷參數 134 8.3.4  擦網/底部擦洗 137 8.3.5  PCB支撐 140 8.3.6  實際生產中影響焊膏填充與轉移的其他因素 141 8.4  常見印刷不良現象及原因 143 8.4.1  印刷不良現象 143 8

.4.2  印刷厚度不良 143 8.4.3  汙斑/邊緣擠出 145 8.4.4  少錫與漏印 146 8.4.5  拉尖/狗耳朵 148 8.4.6  塌陷 148 8.5  SPI應用探討 151 8.5.1  焊膏印刷不良對焊接品質的影響 151 8.5.2  焊膏印刷圖形可接受條件 152 8.5.3  0.4mm間距CSP 153 8.5.4  0.4mm間距QFP 154 8.5.5  0.4~0.5mm間距QFN 155 8.5.6  0201 155 第9章  鋼網設計與常見不良 157 9.1  鋼網 157 9.2  鋼網製造要求 160 9.3  範本開口設計基本要求 

161 9.3.1  面積比 161 9.3.2  階梯範本 162 9.4  範本開口設計 163 9.4.1  通用原則 163 9.4.2  片式元件 165 9.4.3  QFP 165 9.4.4  BGA 166 9.4.5  QFN 166 9.5  常見的不良開口設計 168 9.5.1  範本設計的主要問題 168 案例7  範本避孔距離不夠導致散熱焊盤少錫 169 案例8  焊盤寬、引腳窄導致SIM卡移位 170 案例9  熔融焊錫漂浮導致變壓器移位 170 案例10  防錫珠開孔導致圓柱形二極體爐後飛料問題 171 9.5.2  範本開窗在改善焊接良率方面的應用 171

案例11  兼顧開焊與橋連的葫蘆形開窗設計 171 案例12  電解電容底座鼓包導致移位 173 案例13  BGA變形導致橋連與球窩 174 第10章  再流焊接與常見不良 175 10.1  再流焊接 175 10.2  再流焊接工藝的發展歷程 175 10.3  熱風再流焊接技術 176 10.4  熱風再流焊接加熱特性 177 10.5  溫度曲線 178 10.5.1  溫度曲線的形狀 179 10.5.2  溫度曲線主要參數與設置要求 180 10.5.3  爐溫設置與溫度曲線測試 186 10.5.4  再流焊接曲線優化 189 10.6  低溫焊料焊接SAC錫球的BGA混裝再流

焊接工藝 191 10.6.1  有鉛焊料焊接無鉛BGA的混裝工藝 192 10.6.2  低溫焊料焊接SAC錫球的混裝再流焊接工藝 196 10.7  常見焊接不良 197 10.7.1  冷焊 197 10.7.2  不潤濕 199 案例14  連接器引腳潤濕不良現象 200 案例15  沉錫板焊盤不上錫現象 201 10.7.3  半潤濕 202 10.7.4  滲析 203 10.7.5  立碑 204 10.7.6  偏移 207 案例16  限位導致手機電池連接器偏移 207 案例17  元器件安裝底部噴出的熱氣流導致元器件偏移 208 案例18  元器件焊盤比引腳寬導致元器件偏移

 208 案例19  片式元件底部有半塞導通孔導致偏移 209 案例20  不對稱焊端容易導致偏移 209 10.7.7  芯吸 210 10.7.8  橋連 212 案例21  0.4mm QFP橋連 212 案例22  0.4mm間距CSP(也稱?BGA)橋連 213 案例23  鉚接錫塊表貼連接器橋連 214 10.7.9  空洞 216 案例24  BGA焊球表面氧化等導致空洞形成 218 案例25  焊盤上的樹脂填孔吸潮導致空洞形成 219 案例26  HDI微盲孔導致BGA焊點空洞形成 219 案例27  焊膏不足導致空洞產生 220 案例28  排氣通道不暢導致空洞產生 220

案例29  噴印焊膏導致空洞產生 221 案例30  QFP引腳表面污染導致空洞產生 221 10.7.10  開路 222 10.7.11  錫球 223 10.7.12  錫珠 226 10.7.13  飛濺物 229 10.8  不同工藝條件下用63Sn/37Pb焊接SAC305 BGA的切片圖 230 第11章  特定封裝的焊接與常見不良 232 11.1  封裝焊接 232 11.2  SOP/QFP 232 11.2.1  橋連 232 案例31  某板上一個0.4mm間距QFP橋連率達到75% 234 案例32  QFP焊盤加工尺寸偏窄導致橋連率增加 235 11.2.2  虛焊

 235 11.3  QFN 236 11.3.1  QFN封裝與工藝特點 236 11.3.2  虛焊 238 11.3.3  橋連 240 11.3.4  空洞 241 11.4  BGA 244 11.4.1  BGA封裝類別與工藝特點 244 11.4.2  無潤濕開焊 245 11.4.3  球窩焊點 246 11.4.4  縮錫斷裂 248 11.4.5  二次焊開裂 249 11.4.6  應力斷裂 250 11.4.7  坑裂 251 11.4.8  塊狀IMC斷裂 252 11.4.9  熱迴圈疲勞斷裂 253 第12章 波峰焊接與常見不良 256 12.1 波峰焊接 256

12.2 波峰焊接設備的組成及功能 256 12.3 波峰焊接設備的選擇 257 12.4 波峰焊接工藝參數設置與溫度曲線的測量 257 12.4.1 工藝參數 258 12.4.2 工藝參數設置要求 258 12.4.3 波峰焊接溫度曲線測量 258 12.5 助焊劑在波峰焊接工藝過程中的行為 259 12.6 波峰焊接焊點的要求 260 12.7 波峰焊接常見不良 262 12.7.1 橋連 262 12.7.2 透錫不足 265 12.7.3 錫珠 266 12.7.4 漏焊 268 12.7.5 尖狀物 269 12.7.6 氣孔—吹氣孔/ 269 12.7.7  孔填充不良 270

12.7.8 板面髒 271 12.7.9 元器件浮起 271 案例33 連接器浮起 272 12.7.10 焊點剝離 272 12.7.11 焊盤剝離 273 12.7.12 凝固開裂 274 12.7.13 引線潤濕不良 275 12.7.14 焊盤潤濕不良 275 第13章 返工與手工焊接常見不良 276 13.1 返工工藝目標 276 13.2 返工程式 276 13.2.1  元器件拆除 276 13.2.2 焊盤整理 277 13.2.3 元器件安裝 277 13.2.4 工藝的選擇 277 13.3 常用返工設備/工具與工藝特點 278 13.3.1 烙鐵 278 13.3.2

 熱風返修工作站 279 13.3.3 吸錫器 281 13.4 常見返修失效案例 282 案例34 採用加焊劑方式對虛焊的QFN進行重焊導致返工失敗 282 案例35 採用加焊劑方式對虛焊的BGA進行重焊導致BGA中心焊點斷裂 282 案例36 風槍返修導致周邊鄰近帶散熱器的BGA焊點開裂 283 案例37 返修時加熱速率太大導致BGA角部焊點橋連 284 案例38 手工焊接大尺寸片式電容導致開裂 284 案例39 手工焊接外掛程式導致相連片式電容失效 285 案例40 手工焊接大熱容量外掛程式時長時間加熱導致PCB分層 285 案例41 採用銅辮子返修細間距元器件容易發生微橋連現象 286

第三部分 組裝可靠性 289 第14章 可靠性概念 291 14.1 可靠性定義 291 14.1.1 可靠度 291 14.1.2 MTBF與MTTF 291 14.1.3 故障率 292 14.2 影響電子產品可靠性的因素 293 14.2.1 常見設計不良 293 14.2.2 製造影響因素 294 14.2.3 使用時的劣化因素 295 14.3 常用的可靠性試驗評估方法—溫度迴圈試驗 296 第15章 完整焊點要求 298 15.1 組裝可靠性 298 15.2 完整焊點 298 15.3 常見不完整焊點 298 第16章 組裝應力失效 304 16.1 應力敏感封裝 304 1

6.2 片式電容 304 16.2.1 分板作業 304 16.2.2 烙鐵焊接 306 16.3 BGA 307 第17章 使用中溫度迴圈疲勞失效 308 17.1 高溫環境下的劣化 308 17.1.1 高溫下金屬的擴散 308 17.1.2 介面劣化 309 17.2 蠕變 309 17.3 機械疲勞與溫度迴圈 310 案例42 拉應力疊加時的熱疲勞斷裂 310 案例43 某模組灌封工藝失控導致焊點受到拉應力作用 310 案例44 灌封膠與PCB的CTE不匹配導致焊點早期疲勞失效(開裂) 312 第18章 環境因素引起的失效 313 18.1  環境引起的失效 313 18.1.1 電化

學腐蝕 313 18.1.2 化學腐蝕 315 18.2 CAF 316 18.3 銀遷移 317 18.4 硫化腐蝕 318 18.5 爬行腐蝕 318 第19章 錫須 321 19.1 錫須概述 321 19.2 錫須產生的原因 322 19.3 錫須產生的五種基本場景 323 19.4 室溫下錫須的生長 324 19.5 溫度迴圈(熱衝擊)作用下錫須的生長 325 19.6 氧化腐蝕引起的錫鬚生長 326 案例45 某產品單板上的輕觸開關因錫須短路 327 19.7 外界壓力作用下的錫鬚生長 327 19.8 控制錫鬚生長的建議 328 後記 330 參考文獻 331  

液態金屬與石墨烯溶液於LED的導電與散熱之應用

為了解決液態金屬散熱片的問題,作者鍾翰亘 這樣論述:

對於現今積體電路的發展,積體電路的散熱已成為目前研究的對象。本研究的主題就是將電解液導入至流道再將電源導至電解液或液態導體,希望能夠將可導電的液態導體取代固體導線,使液態導體為電子元件傳導電能的同時也可以為整體電路提供散熱。本次實驗以ANSYS軟體分析在發光二極體工作時所產生的熱在流道上的溫度分布,而實驗中使用兩片PVC板,其中一片使用銑床製作兩條流道再用鑽床鑽出可將導線放入流道中的孔洞,流道分為兩個循環,分別為正負兩極,將電子元件的兩端接頭放入之前在PVC板上鑽出的兩個孔洞,再使用導線將電流電壓導入致電解液或液態金屬當中,藉由這兩種物質將能量傳導至電子元件使它作功,之後使用光功率計及溫度計

測量其溫度及光功率與使用一般導線導電所測出的溫度及光功率相互比較,比較出的結果固體導線與液態導體(液態金屬)最高溫度差可達到11.67°C,與液態導體(石墨烯溶液)最高溫度差可達到20.13°C。固體導線光功率最高約為59.67mW,液態導體(液態金屬)最高約為56.98mW,其數值差異不大,而石墨烯溶液最大約只有11.21mW,最終得出結論就是石墨烯溶液雖然有很高的散熱能力,但導電能力卻不如液態金屬,而液態金屬的導電性可以媲美金屬導線,而其導熱性又比一般的固體導線佳,綜合考量來說液態金屬是較為優秀的液態導體。